Dostęp testowy do bazy Applied Science & Technology Source Ultimate

Dostęp testowy do platformy Flipster

Webinaria z baz danych

Webinarium „Zasoby Taylor & Francis w modelu Open Access”

Sympozjum IEEE na temat autorstwa i otwartego dostępu. Wskazówki i najlepsze praktyki dotyczące publikowania od redaktorów IEEE.